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怎樣判斷32.768KHz晶振的好壞

點(diǎn)擊次數(shù):16566   發(fā)布時間:2018/1/8 11:00:53

 怎樣判斷32.768KHz晶振的好壞 

表晶32.768kHz晶振是市面上使用*為廣泛的一類晶振。愛普生/EPSON目前提供三類32.768kHz晶振產(chǎn)品以滿足客戶不同需要,分別是:32.768kHz有源晶振(OSC),32.768kHz無源晶振(X’tal)和內(nèi)置32.768kHz晶體諧振器的實(shí)時時鐘模塊(RTC)。
有源晶振(OSC)和實(shí)時時鐘模塊(RTC)由于內(nèi)置了相應(yīng)的電路,因而不太容易出現(xiàn)不起振的問題。在實(shí)際使用時不需要考慮相對復(fù)雜的頻率匹配問題。
不起振的情況主要出現(xiàn)在無源晶振上,尤其是kHz級別的無源晶振(X’tal),而MHz級別的AT晶振則相對少見。
 

晶振不起振的原因是什么?


答案是:電路結(jié)構(gòu)與晶體單元不匹配。由此導(dǎo)致產(chǎn)生頻率不夠穩(wěn)定、停止起振或振蕩不穩(wěn)定等問題。
因此在電路設(shè)計(jì)時,為了獲得穩(wěn)定的振蕩,通常情況下石英晶體單元與振蕩電路的匹配十分重要。
解決晶振不起振至少要對以下三個要素:對振蕩頻率(頻率匹配)、振蕩裕度(負(fù)阻抗)
和激勵功率的三項(xiàng)進(jìn)行評估

32.768KHz晶振的測試方法:

1、緒論及技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品簡介:

一、CX-118A是高性價比的晶振測試系統(tǒng),采用微處理器技術(shù),實(shí)現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測量。它測量精度高,靈敏度高,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計(jì)數(shù)等功能;中心頻率(標(biāo)稱頻率)F0、分檔值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設(shè)定并能存儲。該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。。

具有PPM測量功能,預(yù)置頻率F0可任意設(shè)置。該功能特別適合于晶體振動器生產(chǎn)企業(yè),測試結(jié)果顯示直觀。

主要功能:頻率測量,PPM測量,周期測量,數(shù)據(jù)累計(jì) ,功能設(shè)定

 

二、主要技術(shù)指標(biāo):

頻率測量范圍: 0.1Hz — 100MHz

頻率測量靈敏度:30mv

PPm測量:3KHz — 100MHz

PPm測量精度:≤1 PPm (1×10-6)

(可擴(kuò)展0.1PPm , 0.01 PPm)

中心頻率:0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定

誤差設(shè)置范圍設(shè)定:± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。

閘門設(shè)置:四檔 ,0.01s、 0.1s、1s三檔固定,

1檔閘門1ms — 10s可設(shè),

每1mS為一階梯任意設(shè)定。

周期測量范圍:100 ms — 10 s

晶振穩(wěn)定性:5 ×10-7 / 日

時基頻率:OCXO--10MC

 

三、特點(diǎn):

微機(jī)控制,可編程器件開發(fā), 模塊化設(shè)計(jì)

100MHz同步等精度測量方式

SMT貼裝生產(chǎn)、工藝,全新小型化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

9位LED顯示

PPm提示功能

 

2、產(chǎn)品外觀圖:

原創(chuàng)作者:深圳市創(chuàng)鑫儀器有限公司

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